3D-Messungen von Oberflächen, die im sichtbaren Licht stark reflektierend oder transparent sind, können mit herkömmlichen Messverfahren nicht die erforderliche Genauigkeit erreichen, insbesondere dann nicht, wenn sie gleichzeitig mit streuenden Komponenten, z. B. Optikfassungen, vermessen werden sollen. Ziel von UVLAS2 ist es, ein musterprojektionsbasiertes 3D-Messsystem im UV-Bereich für Oberflächen mit verschiedenen Materialkomponenten zu entwickeln.

Dazu wollen Wissenschaftler des Instituts für Angewandte Optik und Biophysik (IAOB), der Universität Jena und des Fraunhofer-Instituts für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF in Jena einen UV-Projektor für inkohärente Speckle-Muster entwerfen, zwei UV-Kameras kalibrieren und Algorithmen zur 3D-Punktrekonstruktion anpassen.

Für das zweijährige Projekt sollen ca. 500.000 Euro Fördermittel des Programms "Industrielle Gemeinschaftsforschung" (IGF) des Bundesministeriums für Wirtschaft und Energie (BMWi) eingeworben werden. Die Administrationskosten sind von der Industrie zu tragen. Ein umfangreicher Technologietransfer wird von der F.O.M. sichergestellt, die das Projekt in ihrer Verantwortung durchführt.

Der Projektantrag soll spätestens im Herbst 2021 bei der Arbeitsgemeinschaft industrieller Forschungsvereinigungen (AiF) zur Begutachtung eingereicht werden. Bei einer ausreichend positiven Bewertung und hinreichendem Interesse der Industrie kann das Projekt im ersten Quartal 2022 starten – vorausgesetzt, die Ende des Jahres auslaufende IGF-Richtlinie wird verlängert.

Falls Sie an einer Teilnahme am projektbegleitenden Ausschuss des Vorhabens interessiert sind oder die IGF-Forschung der F.O.M. durch einen freiwilligen Förderbeitrag unterstützen möchten, freuen wir uns auf Ihre Kontaktaufnahme und lassen Ihnen gerne weitere Informationen zukommen.

Projektsteckbrief