Der heutigen Komplexität vieler optischen Beschichtungen für industrielle Anwendungen werden verfügbare Qualitätskontrollen nicht mehr ausreichend gerecht, z. B. bei der Absolutgenauigkeit, der spektralen Auflösung und den Messzeiten. Projektziel ist die Entwicklung eines modularen Spektralphotometers mit verlässlicher, hoher Messgenauigkeit – maßgeschneidert für verschiedene Spektralbereiche und Komponentenklassen. Hierzu sollen unter anderem moderne Strahlquellen, Module zur Anpassung der Strahlformung und neue Detektorkonzepte erprobt und validiert werden.
IGF-Projekt: 21019 N
Laufzeit: 01.04.2020 - 31.03.2023
Beteiligte Forschungseinrichtung
Eingebundene Unternehmen
(Projektbegleitender Ausschuss, "PA")
BMWK-Förderung
Deckung der Administrationskosten
Vorhabensbeschreibung
Abschließende Ergebnisse
Weitere Informationen für eingebundene PA-Unternehmen
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